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掃描原理

掃描測量提供了一種從規則型面工件或其他復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。

觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量的表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。

掃描需要根本不同的傳感器設計、機器控制和數據分析方法。

雷尼紹掃描測頭*特色的輕巧無電源機構（無馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態響應。

掃描系統如何采集并分析表面數據？

掃描測頭提供連續的偏移量輸出，與機器位置相結合，從而獲得表面位置數據。進行掃描測量時，測頭測尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動，采集測量數據。在整個測量過程中，須將測頭測針的偏移量保持在測頭的測量范圍內。

要想取得理想測量結果，需要傳感器與機器控制緊密集成，以及良好的濾波運算，以將合成數據轉換為可用的表面信息。掃描驅動算法適用于工件輪廓測量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調整數據采集速率（表面變化越快，采集的數據越多）。

特性與優點:

• 世界上小的掃描測頭，直徑僅為25 mm

  一系列FCR25模塊交換系統，每一種系統都允許各式SP25M系統元件存儲在每一個端口中。

  • SM25掃描模塊和TM25-20 TTP模塊轉接頭可直接存儲在FCR25端口中
  • SH25掃描測針吸盤需要PA25-SH轉接頭
  • TP20模塊可借助PA25-20轉接頭存放
• 優異的計量性能 — 獨立的光學傳感和三次多項式補償
• 五個模塊在各種測針長度（長可達400 mm）范圍內均具有理想的性能
• 二合一傳感器 — 掃描和觸發
• 防碰撞保護功能，測針交換簡單
• 快速簡便的測頭標定循環程序
• 適用于輪廓和外形測量
• 適用于機動可重復定位測座，靈活性更強，掃描循環時間更短
• 設計簡潔、剛性好，可靠性更高 — 無馬達或鎖定機構

SP25M模塊和測針吸盤:

一系列模塊組件使SP25M用戶能夠自建自我需求的測頭能力。

每一種SM25-#掃描模塊在增益和彈簧剛性方面都經過優化處理，可適應規定的測針長度范圍。每一種模塊都有相匹配的SH25-#測針吸盤。

SH25-3和SH25-4測針吸盤是一根固定的碳纖維桿，上面安裝了M3測針，提供合適的工作長度。

同時，SP25M在使用 SM25-1 / 2 / 3 / 4 / 5掃描模塊和原裝標準測針吸盤 (SH25-1 / 2 / 3 / 4 / 5) 時，可以安裝曲柄式（非直式）測針配置，但是在需要較大偏置的場合，要實現理想測量性能，雷尼紹建議使用SH25-2A / 3A / 4A系列測針吸盤，該測針吸盤專門用于解決此類測針組合可能導致的問題。

SP25M:

直徑僅為25 mm，配備一系列掃描及觸發模塊，SP25M是世界上小型的多用途掃描測頭系統。

SP25M由兩個傳感器組成，包含在一個外殼中。用戶可從五個掃描模塊（可安裝長度從20 mm至400 mm的M3測針）中選擇任意一個，與轉接模塊（與雷尼紹的TP20系列測頭模塊兼容）進行切換。這一功能可實現在單個測頭系統中進行掃描和觸發測量。

SP25M小巧的尺寸和自動吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。它還可安裝在自動吸附的多芯加長桿上。同時，這些組合具有的測觸能力，便于檢測各種零件特征。

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