庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使該儀器成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）,以及各種電解速度。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
菲希爾庫(kù)侖測(cè)厚儀CMS2 STEP的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。 鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
 | CMS2特征 ? 大尺寸高分辨率的彩色顯示器
? 簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
? 使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測(cè)量
? 電解速度和測(cè)量面積的簡(jiǎn)單選擇
? 電壓曲線圖形顯示
? 圖形和統(tǒng)計(jì)分析
? 多語言和計(jì)量單位可供選擇 CMS2 STEP特殊功能
? 同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
? 銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備
? 可調(diào)節(jié)的電解電流 |
測(cè)量原理:
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和化學(xué)電位差）的簡(jiǎn)寫， 是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測(cè)量方法。它可以同時(shí)測(cè)量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測(cè)量時(shí)用庫(kù)侖法來測(cè)量，電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測(cè)量。電壓曲線可以顯示在屏幕上，鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。
為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測(cè)量結(jié)果，參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個(gè)問題通過特殊的測(cè)量槽得到解決。銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)圓錐形的環(huán)狀電極，并作為測(cè)量槽底部的外殼與測(cè)量槽蓋連接。測(cè)量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)圓錐形的環(huán)狀電極，并作為測(cè)量槽底部的外殼與測(cè)量槽蓋連接。測(cè)量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。
系統(tǒng)概述:
一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架（例如：STEP測(cè)量槽） 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。
廣泛的測(cè)量支架v18和的測(cè)量支架
v27測(cè)量線材上的鍍層厚度
固定工件的臺(tái)虎鉗，也同樣可以安裝在
V18和V24的支撐板上
篤摯儀器供應(yīng)測(cè)量?jī)x器，這些產(chǎn)品均由高品質(zhì)的原材料和良好的技術(shù)制造，*，符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。我們經(jīng)驗(yàn)豐富的質(zhì)量控制團(tuán)隊(duì)對(duì)儀器提供的測(cè)試范圍進(jìn)行了各種參數(shù)的測(cè)試。我們的產(chǎn)品系列因其高性能，高效率，增強(qiáng)的耐用性和成本效益而贏得了客戶的*。*，歡迎電詢！
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菲希爾測(cè)厚儀
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