律师事务所在线咨询免费,在线观看电影,新岳乱合集500系列,欧美+日本+国产+在线观看

• 
  無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230

  無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現代化設備一起發揮作用。

  查看詳細介紹
• 
  多層鍍鎳鍍銀測厚儀（電解破壞式）

  多層鍍鎳鍍銀測厚儀（電解破壞式） 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。

  查看詳細介紹
• 
  電鍍銀測厚儀Couloscope CMS2 庫侖儀

  電鍍銀測厚儀Couloscope CMS2 庫侖儀 COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀的儀器通過電解去除層來測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。

  查看詳細介紹

共 3 條記錄，當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁